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信息存储应用技术
  • 高精度时序产生电路及芯片
    高精度时序产生电路及芯片_上海芯链微电子科技有限公司_202310104024.0
    本发明公开了一种高精度时序产生电路及芯片，该电路包括：电流源偏置电路和延时电路；所述电流源偏置电路，用于产生偏置电流及钳位电压；所述延时电路，用于输入时钟信号，并通过所述偏置电流对电容充放电方式对所述时钟信号进行延时，并控制输出的延时信号的...
    2026-04-15
  • 半导体存储器设备
    半导体存储器设备_爱思开海力士有限公司_202210009534.5
    一种半导体存储器设备包括存储器单元阵列、页缓冲器和控制逻辑。存储器单元阵列包括用于存储数据的多个存储器单元。页缓冲器通过位线耦合到该多个存储器单元之中的至少一个存储器单元，并且被配置成将数据存储在该至少一个存储器单元中。控制逻辑被配置成控制...
    2026-04-15
  • 一种复合超级电容器材料及其制备方法与超级电容器
    一种复合超级电容器材料及其制备方法与超级电容器_鄂尔多斯实验室_202610149488.7
    本发明提供了一种复合超级电容器材料及其制备方法与超级电容器，所述制备方法包括如下步骤：将泡沫金属基底浸入硫‑钼源沉积液中，进行第一电沉积，得到负载无定形硫化钼的泡沫金属基底；将所述负载无定形硫化钼的泡沫金属基底浸入银源沉积液中，进行第二电沉...
    2026-04-15
  • DDR内存频率切换测试方法及装置
    DDR内存频率切换测试方法及装置_深圳市晶存科技股份有限公司_202512048803.5
    本申请涉及内存管理领域，提供一种DDR内存频率切换测试方法及装置。该方法包括：获取DDR内存的多个预设频率档位；构建至少两个不同切换模式的多阶段测试流程；对于每一测试阶段在执行频率切换动作前生成目标数据，并在执行频率切换动作的过程中从DDR...
    2026-04-15
  • 燕麦淀粉基多孔炭超级电容电极材料及制备方法和应用
    燕麦淀粉基多孔炭超级电容电极材料及制备方法和应用_华能伊敏煤电有限责任公司_202610104606.2
    本发明公开了燕麦淀粉基多孔炭超级电容电极材料及制备方法和应用，属于超级电容器技术领域，方法包括：将燕麦淀粉与水混合形成淀粉乳，加入α‑淀粉酶进行酶解反应，经灭酶、超声处理、干燥、研磨，得到预处理燕麦淀粉粉末；在惰性气氛下，将预处理燕麦淀粉粉...
    2026-04-15
  • 一种数据库运维管理系统
    一种数据库运维管理系统_吉林省吉林祥云信息技术有限公司_202512002753.7
    本发明属于数据库运维技术领域，提供一种数据库运维管理系统，包括控制层、服务层、接入层和数据层，控制层用于实现平台统一的人机交互界面；服务层负责整个系统的数据库运维逻辑处理，与数据层和接入层连接，调度接入层与数据层之间数据传输；接入层负责采集...
    2026-04-15
  • 存储设备纠错方法、系统、设备、介质和程序产品
    存储设备纠错方法、系统、设备、介质和程序产品_海光信息技术(成都)有限公司_202511908510.3
    本申请涉及一种存储设备纠错方法、系统、设备、介质和程序产品。所述方法包括：响应于多个存储颗粒中的第一存储颗粒存在故障的情况下，存储第一存储颗粒影响的码字中错误符号的目标错误位置；响应于码字中错误符号的数量大于两个，基于第一存储颗粒影响的码字...
    2026-04-15
  • 一种基于平整标记的建筑构件三维位姿及视觉测量方法
    一种基于平整标记的建筑构件三维位姿及视觉测量方法_东南大学_202311238407.3
    本发明涉及一种基于平整标记的建筑构件三维位姿及视觉测量方法，包括楼地面、建筑构件、若干平整标记以及双目相机系统；平整标记的图案包括标定板图案和编号图案，使得平整标记在拍摄后实现数据的自动归类；确定了拍摄平整标记的流程；根据坐标系转化建立了理...
    2026-04-15
  • 一种双机热备控制方法及装置
    一种双机热备控制方法及装置_中国电子科技集团公司第五十二研究所_202411733345.8
    本发明涉及计算机控制技术领域，公开了一种双机热备控制方法及装置，该方法包括由第一控制模块将第一规则与第二规则发送给第一数据处理模块；由第一数据处理模块根据第一规则采集初始数据，并根据第二规则将热备数据发送给第二数据处理模块；当第一控制模块接...
    2026-04-15
  • 存储单元擦写方法、装置、电子设备及存储介质
    存储单元擦写方法、装置、电子设备及存储介质_普冉半导体(上海)股份有限公司_202511909066.7
    本申请提供了一种存储单元擦写方法、装置、电子设备及存储介质，涉及存储技术领域，该方法包括：获取存储单元的擦写操作曲线。根据擦写操作曲线，确定使存储单元的阈值电压变化进入线性区所需的最小操作时间。对存储单元施加初始擦写电压，且初始擦写电压的操...
    2026-04-15
  • 一种内存定序器系统和应用该系统的内存定序方法
    一种内存定序器系统和应用该系统的内存定序方法_马来西亚瑞天芯私人有限公司_202110058327.4
    本发明涉及用于外部内存协议的内存定序器系统(100)，该内存定序器系统(100)包括：控制中心(6)，其包括微控制器；控制中心片上网络(5)，其包括点对点连接以同步和协调通信的节点(51)；其特征在于：命令和地址定序器(4)，用于生成用于特...
    2026-04-15
  • 一种钢化玻璃镜平面度检测方法及装置
    一种钢化玻璃镜平面度检测方法及装置_潍坊华创玻璃科技有限公司_202511248513.9
    本发明涉及光学检测技术领域，公开了一种钢化玻璃镜平面度检测方法及装置，所述方法包括获取钢化玻璃镜表面图像；构建完整形貌模型；计算完整形貌模型中点位坐标与基准点位坐标差值，得到变形量并计算表面曲率值和形变梯度值，生成形变参数集；获取环境变化数...
    2026-04-15
  • 一种BMC的协同处理方法、装置、电子设备及存储介质
    一种BMC的协同处理方法、装置、电子设备及存储介质_浪潮计算机科技有限公司_202610282386.2
    本公开提供了一种BMC的协同处理方法、装置、电子设备及存储介质，应用于计算机技术领域，方法应用于基于多核异构芯片的BMC，多核异构芯片包括：第一处理器核和第二处理器核；方法包括：在第一处理器核执行目标任务的过程中，第二处理器核利用多级检测方...
    2026-04-15
  • 一种试验机检测样品长度厚度计量设备
    一种试验机检测样品长度厚度计量设备_南通新华装饰工程有限公司_202410117480.3
    本发明涉及工件检测的技术领域，特别是涉及一种试验机检测样品长度厚度计量设备，其便于对工件的长度、高度和厚度进行同时检测，节省检测时间；包括设备箱，设备箱上设置有上料口和工控箱，设备箱内部固设有支撑板，支撑板上设置有用于定位工件的夹具，并且支...
    2026-04-15
  • 一种蜂窝结构超级电容器及其制备方法
    一种蜂窝结构超级电容器及其制备方法_华南理工大学_202610143499.4
    本发明公开一种蜂窝结构超级电容器及其制备方法，超级电容器包括正极集流体、负极集流体和蜂窝储能层，正极集流体和负极集流体分别覆盖于蜂窝储能层相对的两面；蜂窝储能层由多张复合膜折叠后堆叠固定形成，各复合膜包括第一电极层、电解质层和第二电极层，第...
    2026-04-15
  • 存储装置及其操作方法
    存储装置及其操作方法_爱思开海力士有限公司_202110663541.2
    本发明涉及一种存储装置及其操作方法，该存储装置可以包括：存储器装置，包括温度传感器；以及存储器控制器，从存储器装置获取由温度传感器在温度管理周期感测的温度信息，根据温度信息来执行限制存储器装置的性能的性能限制操作，通过使用温度信息来计算温度...
    2026-04-15
  • 使用差异图对时间旅行跟踪进行索引和重放
    使用差异图对时间旅行跟踪进行索引和重放_微软技术许可有限责任公司_202080065438.1
    利用差异图进行跟踪索引和重放。重放以第一指令开始且以第二指令结束的跟踪的指令的子集以获得一个或多个命名资源的状态。基于重放指令的子集，生成差异图，该差异图被结构化为使得在第一指令处的差异图的添加将一个或多个命名资源带到第二状态，并且在第二指...
    2026-04-15
  • 一种双金属锯背材用钢带外形尺寸检测装置及检测工艺
    一种双金属锯背材用钢带外形尺寸检测装置及检测工艺_浙江荣鑫带钢有限公司_202311787933.5
    本发明公开了一种双金属锯背材用钢带外形尺寸检测装置及检测工艺，涉检测技术领域，包括检测台，还包括检测装置和清理装置，所述检测台底部固定安装有底座，所述检测台顶部固定安装有滑轨，所述滑轨表面滑动安装有电动滑板，所述滑轨表面固定安装有支架，检测...
    2026-04-15
  • 接触镜的参数的测量方法
    接触镜的参数的测量方法_上海艾康特医疗科技有限公司_202211192839.0
    本公开提供一种接触镜的参数的测量方法，其包括：在分离含有接触镜的内镜面的轮廓的镜片模型与接触镜前，对镜片模型进行标记以在镜片模型形成与接触镜的矢深相关的记号，镜片模型具有匹配接触镜的内镜面的外表面；将镜片模型与接触镜分离，并根据记号切割镜片...
    2026-04-15
  • 纳米精度非球面透镜曲率半径测定方法及装置
    纳米精度非球面透镜曲率半径测定方法及装置_苏州优益光电科技有限公司_202610111243.5
    本发明属于精密光学测量技术领域，尤其是一种纳米精度非球面透镜曲率半径测定方法及装置，针对现有的非球面透镜曲率半径测定过程中，间接通过矢高推算曲率，过程易受误差干扰，影响测定的准确性的问题，现提出如下方案，其包括以下步骤：S1 : 将待测透镜...
    2026-04-15
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