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  • 本发明公开了一种考虑接触质量的继电器故障识别方法,涉及继电器故障识别技术领域,解决了现有技术中对继电器故障识别过程中并未考虑继电器的接触质量,进而导致继电器故障识别结果不准确的问题。本发明通过构建以接触质量为核心的多参数加权综合评价体系,同...
  • 本申请提供一种继电器电路的故障检测方法、继电器电路,继电器电路包括故障检测引脚,继电器电路包括至少一条电压传输通路,每一电压传输通路上设置有至少一个继电器,方法包括:通过故障检测引脚分别在第一工作状态或第二工作状态下检测每一电压传输通路对应...
  • 本申请涉及电池测试技术领域,特别涉及一种电池包继电器功能测试方法及装置,其中,方法包括:基于测试电路,在主正继电器闭合前,对高压端口进行电压预充,并控制主正继电器闭合后电池包内外部间的电压差在阈值以内;基于电池包EOL测试设备的放电回路,当...
  • 本公开提出用于诊断接触器的方法和装置。该方法包括获取接触器的控制反馈信号,接触器命令状态和故障位数据,确定接触器是否处于故障状态,以及在接触器处于故障状态的情况下确定故障状态的类型和位置中的至少一项。该方法可以针对高低边驱动控制的接触器进行...
  • 本公开公开了继电器异常的检测方法及装置、电池、车辆、电子设备,涉及数据处理技术领域,获取继电器的第一电压序列及第二电压序列;以第一电压序列为基准,对第二电压序列进行重构,得到重构后的第二电压序列;基于第一电压序列及重构后的第二电压序列,对继...
  • 本申请公开了一种基于引脚多路复用的压缩测试系统及方法,涉及可测试性设计技术领域。对应的系统包括:多个芯片钝化开孔、段插入字节单元、测试数据寄存器以及压缩解压缩单元,其中:压缩解压缩单元配置有初始的芯片钝化开孔以及至少一个备用的芯片钝化开孔;...
  • 本申请提供一种内存芯片的内部发热测试方法、系统、设备及存储介质,涉及半导体技术领域,该方法包括:对目标内存芯片的各个存储体逐个施加电气激励信号,以使各个存储体依次持续进行特征性发热;控制温度观测设备依次采集各个存储体的多视角红外热像图集,并...
  • 本发明提供了一种基于高低温测试的波形特征可视化方法及系统,通过霍尔效应传感器采集芯片高低温测试工况下的电流时序数据,经滑动窗口滤波、重采样预处理后,采用局部多项式拟合生成连续平滑的电流数据拟合波形;将拟合波形按时间窗口划分,提取波峰波谷种子...
  • 本发明提供了一种伺服功放板检测装置及方法,属于电机驱动控制技术领域,检测装置包括供电模块、使能控制模块以及检测模块;使能控制模块包括电源使能开关以及电机使能开关;检测模块包括电机、双向电流表、功率电阻、切换开关以及转速电压调节开关,通过切换...
  • 本发明涉及电源板检测技术领域,具体公开了一种PLC电信号相对坐标标定方法、装置及其冰柜电源板。所述方法包括:通过位置检测单元判断电源板是否位于检测工位;若是,则执行PLC电信号间断测试过程,基于第一探针触点识别目标电子元件并获取其荷电信息;...
  • 本发明实施例提供了计算系统、自测试平台、方法、程序产品和相关装置,其中,所述计算系统包括:设置于主板上的基板管理控制器和系统管理总线,以及多个芯粒;所述基板管理控制器通过系统管理总线与多个芯粒互连,所述基板管理控制器用于根据自测试需求生成控...
  • 本发明实施例提供一种时钟芯片的测试方法及系统,所述方法包括:控制多电源域上电时序,对待测时钟芯片进行上电,记录每个电源域的上电浪涌电流曲线、静态功耗谱,并结合数字接口综合确定待测时钟芯片的分类,并基于此分类加载初始配置;将待测时钟芯片置于高...
  • 本发明涉及一种用于集成电路载板测试的治具盘,包括能定义出长度、宽度及高度轴向的底座,以及沿长度轴向延伸地设置于底座上的两个定位杆,其中至少一个定位杆能相对于底座沿宽度轴向滑移以适配载板的宽度,且能固定于底座以使载板受两个定位杆夹持,定位杆包...
  • 本申请涉及电子技术领域,公开了一种HDMI测试系统、方法及测试设备,通过在每一个第一引脚均输出第一电压时,断开每一个第一连接电路,以使控制单元在检测到任一个第二引脚的引脚电压小于或等于开路电压阈值时,确定待测试设备出现开路异常,或者,在控制...
  • 本发明公开了适用于测井仪器电路板故障检测定位方法,具体步骤如下:步骤1,在完好的标准电路板上设置多个关键检测点,搭建测井仪器电路板故障检测装置;步骤2,建立标准电路板波形图库,采用步骤1中的测井仪器电路板故障检测装置实时测试,并与标准电路板...
  • 本申请涉及芯片的测试技术领域,特别是涉及一种芯片的功耗的确定方法。芯片包括n个第一类时钟和m个第二类时钟,所述第一类时钟在不同工作场景下的频率相同或不同,所述第二类时钟在不同工作场景下的频率相同,n≥2,m≥1;所述方法包括以下步骤:获取芯...
  • 本发明提供一种基于激光热反射率的氮化镓晶体管热阻测量装置和方法,涉及半导体器件测试技术领域,该方法为获取不同温度下氮化镓晶体管的激光反射率数据;对激光反射率数据各数据点对于目标点的距离权重进行计算,得到各数据点的距离权重;基于距离权重,进行...
  • 本申请公开了一种脉冲测试方法和脉冲测试平台。通过控制模块发送控制信号至驱动模块;驱动模块根据控制信号生成脉冲驱动信号,并将脉冲驱动信号发送至测试模块和供电模块;供电模块基于脉冲驱动信号为待测器件提供对应的测试电压,测试模块基于脉冲驱动信号对...
  • 本发明公开了一种基于电学传感器的半导体测试用供电装置,涉及半导体测试技术领域。该基于电学传感器的半导体测试用供电装置,包括供电组件和测试仓,所述供电组件的侧面装配有冷风输入管,所述供电组件的内部装配有供电元件放置仓,所述供电元件放置仓的内部...
  • 本公开提供了一种多相电机IGBT开路故障辨识方法、系统及存储介质,涉及电机控制技术领域,其中方法包括:获取多相电机的实际转速;在实际转速大于设定转速阈值时,启动第一诊断策略,第一诊断策略用于基于多相电机的各相电流进行谐波分析定位发生IGBT...
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