长春慧程科技有限公司王世英获国家专利权
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龙图腾网获悉长春慧程科技有限公司申请的专利一种芯片失效分析路径的分级决策与智能管控方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121805822B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202610279271.8，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种芯片失效分析路径的分级决策与智能管控方法是由王世英;韩健;王晓伟;赵国豪设计研发完成，并于2026-03-09向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种芯片失效分析路径的分级决策与智能管控方法在说明书摘要公布了：本发明涉及芯片失效分析技术领域，尤其涉及一种芯片失效分析路径的分级决策与智能管控方法，包括：根据目标分析模型的路径异常频次比确定是否进行数据优化以获得优化后的目标分析模型；数据优化中，采用关联数据补充的补充策略，并根据高频关联异常芯片数据占比确定补充策略是否包括失效分析补充；失效分析补充中，根据相关参考值确定直接判定离群参数或根据偏离复现频次比和参数浮现系数二次判定是否为离群参数，并针对各离群参数进行数据补充，并根据全域异常系数确定是否进行全域扰动分析补充。本发明能够提高分析效率及结果可靠性。
本发明授权一种芯片失效分析路径的分级决策与智能管控方法在权利要求书中公布了：1.一种芯片失效分析路径的分级决策与智能管控方法，其特征在于，包括： 根据目标分析模型的路径异常频次比确定是否进行数据优化以获得优化后的目标分析模型； 数据优化中，采用关联数据补充的补充策略，并根据高频关联异常芯片数据占比确定补充策略是否包括失效分析补充； 关联数据补充中，基于异常检测参数进行补充，并基于散乱数据占比确定是否基于故障概率图的聚类轮廓系数进行补充； 失效分析补充中，根据相关参考值确定直接判定离群参数或根据偏离复现频次比和参数浮现系数二次判定是否为离群参数，并针对各离群参数进行数据补充，并根据全域异常系数确定是否进行全域扰动分析补充； 全域扰动分析补充中，针对异常参考值大于预设异常参考值的各设计参数补充待选择数据，并根据离散系数确定是否基于比对参考机理进行补充； 将失效芯片的芯片检测数据输入优化后的目标分析模型，以输出取样点和取样点顺序。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人长春慧程科技有限公司，其通讯地址为：130117 吉林省长春市净月开发区生态东街与福祉大路交汇净月高新区数字科技孵化基地项目A9栋10层C-2房间；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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