盐城芯辉电子科技有限公司张淑萍获国家专利权
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龙图腾网获悉盐城芯辉电子科技有限公司申请的专利一种半导体测试探针接触机构获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN224216755U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-08发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202521020812.2，技术领域涉及：G01R1/04；该实用新型一种半导体测试探针接触机构是由张淑萍设计研发完成，并于2025-05-22向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种半导体测试探针接触机构在说明书摘要公布了：本实用新型公开了一种半导体测试探针接触机构，属于半导体测试领域，包括安装座和两个固定座，两个固定座的内部均开设有安装槽，安装槽的内部固定连接有一号弹簧，一号弹簧的端部固定连接有限位块，限位块滑动连接在安装槽的内部，固定座的内部滑动连接有卡块，卡块的上方和限位块卡接，限位块的一侧固定连接有连接块，本方案中，二号弹簧和带倒角的按压杆，使按压操作轻松顺畅，下压按压杆可推动斜块，带动限位块移动，实现卡块与限位块分离，便于固定座拆卸调整，且按压后二号弹簧自动复位，简化人工操作；卡块下方手柄进一步优化操作，方便卡块滑动，快速完成卡接与分离，提升操作效率。
本实用新型一种半导体测试探针接触机构在权利要求书中公布了：1.一种半导体测试探针接触机构，包括安装座1和两个固定座15，其特征在于：两个所述固定座15的内部均开设有安装槽16，所述安装槽16的内部固定连接有一号弹簧17，所述一号弹簧17的端部固定连接有限位块18，所述限位块18滑动连接在安装槽16的内部，所述固定座15的内部滑动连接有卡块23，所述卡块23的上方和限位块18卡接，所述限位块18的一侧固定连接有连接块19，所述连接块19的一端固定连接有斜块2，所述连接块19和斜块2均滑动连接在固定座15的内部。
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