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龙图腾网获悉北京航空航天大学;北京航空航天大学杭州创新研究院申请的专利一种薄板原位磁特性测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116482589B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310360839.5，技术领域涉及：G01R33/12；该发明授权一种薄板原位磁特性测试方法是由孙津济;周伟勇;徐学平;韩邦成设计研发完成，并于2023-04-06向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种薄板原位磁特性测试方法在说明书摘要公布了：本发明公开一种薄板原位磁特性测试方法，包括：调整测试装置的高度与角度，使得测试装置靠近磁屏蔽体待测位置；将带有激励线圈的辅助磁轭，贴紧测试表面，并锁紧真空吸盘；启动数据采集程序，磁场强度线圈和磁感应强度探针在电动推杆的作用下，靠近磁屏蔽体测试表面，同时磁轭上的激励线圈通电；用数据传输软件及硬件在上位机上获取测试图线和测试数据；测试完成后，将真空吸盘锁扣打开，撤离测试装置。本发明可以实现磁屏蔽体材料原位测量，无需拆卸，便于磁屏蔽体性能监测和维护，同时操作便捷，适用性广。

本发明授权一种薄板原位磁特性测试方法在权利要求书中公布了：1.一种薄板原位磁特性测试方法，其特征在于，薄板原位磁特性测试方法所涉及的测试装置包括移动底座、升降支撑架、旋转支撑、测量组件、真空吸盘、磁轭，利用移动底座将测试装置移动到待测位置，通过调节与移动底座固定连接的升降支撑架的高度、以及调整与升降支撑架铰接的旋转支撑座的角度，调节测试装置的测量姿态，使得磁轭正对并靠近薄板样件，当磁轭贴近薄板样件后，利用与磁轭以及旋转支撑座固定连接的真空吸盘将测试装置与薄板样件吸合固定，同时锁紧移动底座、升降支撑架和旋转支撑座的活动关节，保证测试过程中测试装置与薄板样件相对位置保持固定；在测试装置位置锁定后，磁轭与薄板样件形成闭合回路，启动数据采集流程；首先通过无磁电推杆推动测量组件靠近薄板样件，无磁电推杆一端与旋转支撑座固定连接，另一端与测量组件连接，测量组件与磁轭接触表面采用无磁耐磨低阻的材料，使得测量组件可在磁轭内顺畅滑动；当测量组件在无磁电推杆的推动下到达测试位置后，通过缠绕在磁轭上的激励线圈施加励磁流在薄板样件形成的闭环回路中形成可控的磁通密度，通过调节激励线圈的电流大小，在薄板样件中形成不同幅值的磁场强度和磁感应强度，由此得到样件完整的磁滞特性； 所述方法包括如下步骤： 步骤1通过移动底座、升降支撑架、旋转支撑座调整测试装置高度与角度，使得测试装置靠近待测磁的薄板样件； 步骤2将辅助的磁轭贴近薄板样件，锁紧真空吸盘及移动底座、升降支撑架、旋转支撑座； 步骤3启动数据采集流程，测量组件自动靠近薄板样件； 步骤4选择测试模式，激励线圈按照设置的测试模式加载电流； 步骤5根据测试需求选择目标测点，通过测量组件进行数据获取，利用数据传输软件及硬件在上位机上获取测试图线和测试数据； 步骤6根据测试需求重复步骤1~5采集薄板样件不同测试位置数据； 步骤7完成测试，撤离测试装置。

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