南瑞联研半导体有限责任公司;国网江苏省电力有限公司电力科学研究院莫申扬获国家专利权
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龙图腾网获悉南瑞联研半导体有限责任公司;国网江苏省电力有限公司电力科学研究院申请的专利一种功率芯片电气性能测试装置及批量测试装置获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116466216B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-08发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202310333637.1,技术领域涉及:G01R31/28;该发明授权一种功率芯片电气性能测试装置及批量测试装置是由莫申扬;童颜;骆健;陈舒;陈静设计研发完成,并于2023-03-31向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种功率芯片电气性能测试装置及批量测试装置在说明书摘要公布了:本发明公开了一种功率芯片电气性能测试装置,包括:装置底座,包括底座壳体、集电极金属结构和集电极端子;压装电极,包括压装电极壳,压装电极壳上方设有发射极端子,压装电极壳底部设有发射极金属结构;压装电极壳的侧面设有栅极端子和栅极顶针;传动腔和按键,压装电极壳通过施压弹簧装配在传动腔内,传动腔内设有传动齿轮,传动齿轮的一侧与按键啮合,另一侧与压装电极壳啮合,传动腔底部通过旋转组件与装置底座连接,按压按键,压装电极抬升的同时传动腔下移,所述传动腔被旋转组件撑起,按压并平移按键将所述压装电极旋转至测试工位或等待工位。本发明能够保证对功率芯片电极的压接连接,保证连接界面压力一致性,提高测试效率。
本发明授权一种功率芯片电气性能测试装置及批量测试装置在权利要求书中公布了:1.一种功率芯片电气性能测试装置,其特征在于,包括: 装置底座2,包括底座壳体2-1,所述底座壳体2-1上设有用于固定芯片6的限位槽,所述限位槽底部设有集电极金属结构2-2,所述底座壳体2-1底部设有集电极端子2-3,所述集电极端子2-3的顶部贯穿底座壳体2-1与集电极金属结构2-2连接,所述集电极金属结构2-2用于与芯片6的集电极直接接触以引出信号; 压装电极1,包括压装电极壳1-1,所述压装电极壳1-1上方设有发射极端子1-2,所述压装电极壳1-1底部设有发射极金属结构1-3,所述发射极端子1-2贯穿所述压装电极壳1-1连接所述发射极金属结构1-3,所述发射极金属结构1-3用于与芯片6的发射极直接接触以引出信号;所述压装电极壳1-1的侧面设有栅极端子1-5和栅极顶针1-6,所述栅极顶针1-6贯穿所述栅极端子1-5,所述栅极顶针1-6用于与芯片6的栅极直接接触以引入栅极信号; 传动腔3和按键4,所述压装电极壳1-1通过施压弹簧9装配在传动腔3内,所述传动腔3内设有传动齿轮7,所述传动齿轮7的一侧与所述按键4啮合,另一侧与所述压装电极壳1-1啮合,所述传动腔3底部通过旋转组件与所述装置底座2连接,按压按键4,压装电极1抬升的同时传动腔3下移,所述传动腔3被旋转组件撑起,相对装置底座2悬空,按压并平移按键4将所述压装电极1旋转至测试工位或等待工位。
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