清华大学张巍获国家专利权
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龙图腾网获悉清华大学申请的专利微弱光光谱测量器件和光谱仪获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114497343B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111580401.5，技术领域涉及：H10N69/00；该发明授权微弱光光谱测量器件和光谱仪是由张巍;郑敬元;冯雪;刘仿;崔开宇;黄翊东设计研发完成，并于2021-12-22向国家知识产权局提交的专利申请。
本微弱光光谱测量器件和光谱仪在说明书摘要公布了：本发明属于光谱设备领域，提供一种微弱光光谱测量器件和光谱仪，包括衬底和设置在衬底上表面的至少两个探测单元，一个探测单元包括一个光调制微纳结构单元和一个超导纳米线单光子探测器单元。光调制微纳结构单元可以对入射光光谱实现一定的调制作用，超导纳米线单光子探测器单元用于探测调制后的光子，或者本身也作为光调制结构与已有的光调制微纳结构单元共同对光子产生光谱调制作用并探测光子，使每个探测单元均具有宽光谱探测特征，可使用计算光谱重建的方法测量光谱，使光子利用率大大提高。光调制微纳结构本身的谐振作用也具有增强超导纳米线单光子探测器探测效率的作用，缩短测量时间。
本发明授权微弱光光谱测量器件和光谱仪在权利要求书中公布了：1.一种微弱光光谱测量器件，其特征在于，包括衬底和设置在所述衬底的上表面的至少两个探测单元，其中，每个所述探测单元包括： 光调制微纳结构单元，包括底板和设置在所述底板上的多个调制孔，多个所述调制孔排布成二维图形结构； 超导纳米线单光子探测器单元，包括至少一条超导纳米线，所述超导纳米线排布成二维图形结构，且所述超导纳米线的纵向投影穿插在多个所述调制孔之间； 多个所述探测单元包括至少两种结构参数的所述调制孔，和\或，包括至少两种二维图形结构的调制孔排布形式，和\或，至少两种二维图形结构的超导纳米线排布形式； 所述底板位于所述衬底的上表面，所述超导纳米线单光子探测器单元设置在所述底板的上表面； 所述底板与所述超导纳米线单光子探测器单元之间设置有缓冲层，且所述底板和所述超导纳米线单光子探测器单元，两者中的其中一者位于所述缓冲层的下表面，另一者位于所述缓冲层的上表面。
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