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龙图腾网获悉中国人民解放军海军工程大学申请的专利一种采用通用检测工具检测的单元划分优化方法和系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115994657B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211591573.7，技术领域涉及：G06Q10/0631；该发明授权一种采用通用检测工具检测的单元划分优化方法和系统是由张宁;孙强;李佳宽;饶喆;陈文须;李华设计研发完成，并于2022-12-12向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种采用通用检测工具检测的单元划分优化方法和系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种采用通用检测工具检测的单元划分优化方法和系统，属于电子设备故障排查领域。本发明通过遍历组长单元并择优选定组员单元构成候选划分集合，所述组长单元为单元检查耗时最长的单元，择优选定组员单元时，从所有当前未检单元中选择不超过组长单元状态检查耗时、发生故障概率最高的若干单元，作为组员单元，与可行组长单元共同构成第j次检测的一种可行单元划分，从所有候选可行单元划分方式中选择整体等效检测时间最小的划分作为当前划分，最终实现对全部单元的优化划分，该划分优化方法实现全局最优的邻域解，平均排查时间会大大减少。

本发明授权一种采用通用检测工具检测的单元划分优化方法和系统在权利要求书中公布了：1.一种采用通用检测工具检测的单元划分优化方法，其特征在于，该方法包括： S1.获取通用检测工具的容量m、构成电子设备的电子类单元数量、各电子类单元状态检测的时间和任务时间内各电子类单元发生故障的概率； S2.电子类单元数量与容量的比值向上取整，作为最大检测次数nm，初始化检测次序j=1，初始化未检单元集为构成电子设备的所有电子类单元； S3.从当前未检单元集中找出所有可行的组长单元，所述组长单元为单元检查耗时最长的单元；对于每个可行的组长单元，选择不超过组长单元状态检查耗时、发生故障概率最高的m-1个单元，与可行组长单元共同构成第j次检测的一种可行单元划分，所有可行单元划分共同组成第j次检测的可行单元划分候选集； S4.从第j次检测的可行单元划分候选集中选取整体等效检测时间最小的划分方式，作为第j次检测的单元划分结果，未检单元集更新为当前未检单元集与j次检测的单元划分结果的差集； S5.更新j=j+1，若jnm，进入S3，否则，将当前未检单元集作为最后1次检测的单元划分结果； S6.计算采用通用检测工具检测的平均故障排查时间： 其中，为第j次检查所有单元的故障概率之和，为前j次检测的累计检查时间，为单元r发生故障的概率，n为构成电子设备的电子类单元数量； 其中，步骤S3包括： S31.初始化分组数量，，当前未检单元集元素个数na=n-j-1m； S32.初始化组长单元编号，未检单元集A中除z外的剩余元素为候选组员单元编号记为At； S33.在At中找出所有单元检查时间不大于的单元编号，置于数组中，若数组长度≥m-1，则进入S34，否则，直接进入S36； S34.对数组进行降序排列后，将其最大的前m-1个元素对应的单元编号置于数组中，其中，为组员单元编号，为所有单元编号在数组中的单元对应的单元故障概率； S35.更新，把置于矩阵zall的第行，并计算整体等效检测时间； S36.更新，若，进入S32，否则，进入S4； 所述整体等效检测时间的计算公式如下： 其中，为组长单元的检查时间，为组长单元的故障概率，为可行单元划分结果中除组长单元外所有单元的故障概率的累加结果。

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