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龙图腾网获悉沐曦集成电路(上海)股份有限公司申请的专利一种芯片测试方法、设备及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121501621B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202610037914.8，技术领域涉及：G06F11/34；该发明授权一种芯片测试方法、设备及介质是由王娟;陈磊设计研发完成，并于2026-01-13向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种芯片测试方法、设备及介质在说明书摘要公布了：本申请提供了一种芯片测试方法、设备及介质，方法包括如下步骤：根据待测试芯片的每一目标时钟域的时钟频率和预测性能值，确定每一目标时钟域的中间性能值；将多个中间性能值中的最小值确定为目标性能值；对所述待测试芯片进行性能测试，以得到目标时钟域的实际性能值；若所述实际性能值不小于所述目标性能值，则所述待测试芯片通过测试。本申请提供的芯片测试方法，只对目标性能值进行性能测试，即可得知待测试芯片是否通过测试。如此，大大减少了需要进行性能测试的性能值的数量，从而降低了数据仿真的次数和分析资源的消耗。

本发明授权一种芯片测试方法、设备及介质在权利要求书中公布了：1.一种芯片测试方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤： S100，根据待测试芯片的每一目标时钟域的时钟频率和预测性能值，确定每一目标时钟域的中间性能值；中间性能值为其对应的目标时钟域所对应的预设函数对其对应的目标时钟域的时钟频率和预测性能值进行计算后得到的，所述预测性能值根据其对应的目标时钟域在当前测试的工作场景下的功能类型确定；所述目标时钟域的数量为至少两个，至少两个目标时钟域是根据当前测试的工作场景从所述待测试芯片的多个时钟域中确定出的，且至少两个目标时钟域在所述当前测试的工作场景下进行工作时，相互之间具有配合关系； S200，将多个中间性能值中的最小值确定为目标性能值； S300，对所述待测试芯片进行性能测试，以得到目标时钟域的实际性能值；所述目标时钟域为所述目标性能值对应的目标时钟域，所述目标性能值和所述实际性能值对应的性能指标相同； S400，若所述实际性能值不小于所述目标性能值，则所述待测试芯片通过测试； 步骤S300，包括以下步骤： S310，获取所述目标时钟域的目标变量的初始数据曲线；所述目标变量为所述目标时钟域测试过程中的多个变量中用于统计所述实际性能值的变量； S320，若所述目标变量的数据流类型为稳定，则根据第一方法从初始数据曲线中确定出目标数据曲线； S330，若所述目标变量的数据流类型为非稳定，则根据第二方法从初始数据曲线中确定出目标数据曲线； S340，根据所述目标数据曲线，确定所述实际性能值。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人沐曦集成电路(上海)股份有限公司，其通讯地址为：201203 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区郭守敬路498号8幢19号楼3层；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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