芯联集成电路制造股份有限公司孙海丽获国家专利权
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龙图腾网获悉芯联集成电路制造股份有限公司申请的专利产品检测方法、装置、存储介质和电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121276286B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511823575.8，技术领域涉及：G01R31/26；该发明授权产品检测方法、装置、存储介质和电子设备是由孙海丽;康栋;王颖;李鹏设计研发完成，并于2025-12-05向国家知识产权局提交的专利申请。
本产品检测方法、装置、存储介质和电子设备在说明书摘要公布了：本申请提供一种产品检测方法、装置、存储介质和电子设备，其中，产品检测方法包括：获取目标产品的一种或者多种测试参数的检测数据；针对每个测试参数，基于测试参数的检测数据，通过线性拟合得到测试参数的变化趋势，并生成用于量化变化趋势的线性程度的评估指标；从多个测试参数中筛选出评估指标大于或者等于第一预设值的测试参数，以作为可疑参数；根据可疑参数的变化趋势以及预设波动范围，识别可疑参数是否为产品的异常参数。由此，提高产品检测的准确性。
本发明授权产品检测方法、装置、存储介质和电子设备在权利要求书中公布了：1.一种产品检测方法，其特征在于，所述方法包括： 获取目标产品的一种或者多种测试参数的检测数据，所述目标产品为半导体产品； 针对每个所述测试参数，基于所述测试参数的检测数据，通过线性拟合得到所述测试参数的变化趋势，并生成用于量化所述变化趋势的线性程度的评估指标； 从多个所述测试参数中筛选出所述评估指标大于或者等于第一预设值的测试参数，以作为可疑参数； 根据所述可疑参数的变化趋势以及预设波动范围，识别所述可疑参数是否为所述目标产品的异常参数； 在识别到所述目标产品的异常参数的情况下，对所述异常参数在不同产品维度下的检测数据分别进行聚类处理，并根据每个所述产品维度对应的聚类结果，识别出数据异常的产品维度；其中，每个所述产品维度对应的聚类结果包括至少两个数据簇；所述根据每个所述产品维度对应的聚类结果，识别出数据异常的产品维度，包括：针对每一个所述产品维度对应的聚类结果，计算所述聚类结果中的不同数据簇之间的相似度；确定所述相似度的最小值对应的所述聚类结果为目标聚类结果，并将所述目标聚类结果对应的产品维度确定为数据异常的产品维度。
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