中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))韩丞智获国家专利权
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龙图腾网获悉中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))申请的专利融合知识图谱和大模型的可靠性方案生成方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120951808B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-01发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511443689.X,技术领域涉及:G06F30/27;该发明授权融合知识图谱和大模型的可靠性方案生成方法是由韩丞智;聂国健;翟芳;方亮;鞠伟;曹浩龙;刘磊;王春红设计研发完成,并于2025-10-10向国家知识产权局提交的专利申请。
本融合知识图谱和大模型的可靠性方案生成方法在说明书摘要公布了:本发明公开了融合知识图谱和大模型的可靠性方案生成方法,属于电子产品可靠性工程领域,包括以下步骤:S1、构建含实体属性、关系、动态约束的电子产品可靠性领域知识图谱;S2、将合成数据与真实数据融合,得到电子产品可靠性增强数据集;S3、引入知识一致性损失进行联合训练,得到具备领域知识锚定和可靠性方案生成能力的ER‑KG‑RAG‑LLM融合模型;S4、接收电子产品可靠性需求,并输入ER‑KG‑RAG‑LLM融合模型,输出可靠性方案。采用上述融合知识图谱和大模型的可靠性方案生成方法,通过融合知识图谱与大模型,实现电子产品可靠性方案从知识检索到智能生成的全流程可信化与高效化,兼顾工程准确性与场景适配性。
本发明授权融合知识图谱和大模型的可靠性方案生成方法在权利要求书中公布了:1.融合知识图谱和大模型的可靠性方案生成方法,其特征在于:包括以下步骤: S1、整合电子产品可靠性领域的结构化数据、非结构化数据及分析检测后的故障-可靠性方案关联实验数据构成原始电子产品可靠性数据,利用知识图谱提取元器件-故障-环境-指标-可靠性方案的实体与关系,并添加动态工程约束,构建含实体属性、关系、动态约束的电子产品可靠性领域知识图谱; S2、对原始电子产品可靠性数据进行预处理得到真实数据,基于真实数据,利用WGAN-数字孪生生成技术生成合成数据,并将合成数据与真实数据融合,得到电子产品可靠性增强数据集; S3、利用电子产品可靠性领域语料对LLM模型进行预训练,并基于TransE模型将电子产品可靠性领域知识图谱的实体与关系转化为低维向量,构建ER-KG检索增强模块;而后以电子产品可靠性增强数据集为训练样本,将ER-KG检索增强模块检索的电子产品可靠性领域知识图谱的子图作为上下文输入预训练的LLM模型,并引入知识一致性损失进行联合训练,得到具备领域知识锚定和可靠性方案生成能力的ER-KG-RAG-LLM融合模型; S4、接收电子产品可靠性需求,采用NER模型将其转化为结构化需求,并输入ER-KG-RAG-LLM融合模型,结合ER-KG检索增强模块检索的元器件-故障-可靠性方案相关子图,生成包含故障模式、风险优先级的FMEA报告;并在经迭代优化和多维验证后输出可靠性方案。
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