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龙图腾网获悉电子科技大学申请的专利模拟电路中非功能性器件识别方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116050333B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310078259.7，技术领域涉及：G06F30/367；该发明授权模拟电路中非功能性器件识别方法是由赖昕栎;杨成林;田书林设计研发完成，并于2023-02-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本模拟电路中非功能性器件识别方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种模拟电路设计图中非功能性器件识别方法，根据模拟电路的网表文件提取出模拟电路的元器件信息和结点信息，遍历元器件字典集，根据结点信息判断短路器件，然后选择根结点，基于每个根结点分别生成结点树，采用Tarjan算法识别出模拟电路中的割点，根据割点和使其成为割点的子结点进行路径搜索，将路径上经过的元器件作为非功能性元器件，将短路器件和非功能性元器件求取合集即为最终的非功能性元器件集合。本发明可以自动根据模拟电路图识别模拟电路中的非功能性元器件，减少模拟电路需要仿真的故障数量，从而缩短模拟电路故障仿真的时间。

本发明授权模拟电路中非功能性器件识别方法在权利要求书中公布了：1.一种模拟电路中非功能性器件识别方法，其特征在于，包括以下步骤： S1：根据模拟电路的网表文件提取出模拟电路的元器件信息和结点信息，得到元器件字典集Components和结点字典集Nodes，其中元器件字典集Components中键为元器件名称，值为数组，用于存储与该元器件相连的结点名称，结点字典集Nodes中键为结点名称，值为数组，用于存储与该结点相连的元器件名称； S2：遍历元器件字典集Components，比较每个元器件的结点名称，当某个元器件所连接的若干结点名称中存在相同的结点名称，则该元器件被短路，将元器件加入短路器件集合A； S3：根据实际需要从模拟电路的结点中选择K个结点作为根结点； S4：令k＝1； S5：基于第k个根结点采用Tarjan算法识别出模拟电路中的割点，具体方法为： S5.1：基于第k个根结点，将结点字典集Nodes中的键作为结点，元器件字典集Components中的键作为结点与结点间的连线，不同结点之间的连接关系通过Components与Nodes两个字典集的互相查找来确定，从而得到结点树treek； S5.2：以深度优先搜索方式结点树中的每个结点，获取结点树中每个结点xi在深度优先搜索时被访问的顺序，作为结点xi的时间戳dfn[xi]，i＝1,2,…,N，N表示结点数量； S5.3：按照各个结点xi的时间戳dfn[xi]遍历每个结点，基于Tarjan算法确定各个结点xi的追溯值low[xi]，具体方法如下： 记当前结点为now，初始化追溯值low[now]＝dfn[now]，子树数量child＝0，获取结点now的父结点fa和所有子结点tod，d＝1,2,…,D，D表示结点now的子结点数量，对于每个子结点tod，如果子结点tod的时间戳dfn[tod]小于结点now的时间戳low[now]，那么结点tod是某个祖先结点，则进一步判断是否tod＝fa，如果不是则更新结点now的追溯值low[now]＝minlow[now],dfn[tod]，否则不作任何操作；如果子结点tod的时间戳dfn[tod]大于结点now的时间戳low[now]，令结点now的子树数量child＝child+1，然后为子结点tod采用改进Tarjan算法确定其追溯值low[tod]，然后更新结点now的追溯值low[now]＝minlow[now],low[tod]； 在所有结点均确定追溯值后，依次判断各个结点是否为割点，具体方法为： 当结点xi为根节点，则判断其子树的数量是否大于等于2，如果是，则结点xi为割点，否则不是； 当结点xi不为根节点，如果结点xi的子结点中有子结点的追溯值大于结点xi的时间戳，则结点xi为割点，否则结点xi不为割点； 记结点树treek所得到的割点数量为M，对于第m个割点im表示第m个割点的结点序号，将其子结点中追溯值大于割点时间戳的子结点构建得到使成为割点的子结点集合toSetk,m中，m＝1,2,…,M； S6：根据步骤S5所得到的M个割点及子结点集合toSetk,m搜索得到非功能性元器件集合Bk，具体方法为：对于每个割点任意选择其子结点集合toSetk,m中一个结点作为子结点进行路径搜索，当搜索到的子结点为割点或子结点不存在则路径搜索结束；将根据M个割点及子结点集合toSetk,m搜索得到的所有路径上经过的元器件，构成根据当前结点树treek所得到的非功能性元器件集合Bk； S7：判断是否k＜K，如果是，进入步骤S8，否则进入步骤S9； S8：令k＝k+1，返回步骤S5； S9：求取短路器件集合A和K个非功能性元器件集合Bk的合集，得到模拟电路的非功能性元器件集合F，即F＝A∪B1∪B2∪…∪BK。

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