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龙图腾网获悉郑州大学申请的专利镁合金缓蚀剂的半定量高通量评价方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119985285B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510232045.X，技术领域涉及：G01N17/00；该发明授权镁合金缓蚀剂的半定量高通量评价方法是由梅迪;崔惟政;朱世杰;王利国;关绍康设计研发完成，并于2025-02-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本镁合金缓蚀剂的半定量高通量评价方法在说明书摘要公布了：本发明实施例公开的镁合金缓蚀剂的半定量高通量评价方法，包括：在镁合金表面形成阵列排布的具有容纳缓蚀剂的开放式容腔的小孔；在阵列排布的小孔中注入不同的缓蚀剂；缓蚀剂与镁合金在设定条件下进行腐蚀反应；反应结束后对镁合金表面进行侧光照射条件下的垂直拍照，获取包含有小孔中腐蚀区域的图像；识别获得的图像中的腐蚀区域，得到每一个腐蚀区域的图像信息；依据图像信息对腐蚀效果进行评价。评价方法能同时测量规模量级的缓蚀剂，避免大规模实验试错，提高效率；在同一镁合金表面的不同位置对缓蚀剂进行平行测量，能够避免镁合金样品不同导致的系统误差；采用侧光照射条件下垂直拍照，能够同时测量镁合金的腐蚀速率和局部腐蚀程度。

本发明授权镁合金缓蚀剂的半定量高通量评价方法在权利要求书中公布了：1.镁合金缓蚀剂的半定量高通量评价方法，其特征在于，方法包括： 在镁合金表面形成阵列排布的小孔，所述小孔具有容纳缓蚀剂的开放式容腔； 在阵列排布的小孔中注入不同的缓蚀剂； 小孔中注入的缓蚀剂与镁合金在设定条件下进行腐蚀反应； 腐蚀反应结束后，对镁合金表面进行侧光照射条件下的垂直拍照，获取包含有阵列小孔中腐蚀区域的图像； 识别获得的图像中的腐蚀区域，得到阵列小孔中每一个腐蚀区域的图像信息；所述图像信息包括腐蚀区域最大亮度、最小亮度、平均亮度、亮度标准偏差、不同亮度级别的腐蚀区域面积占比； 依据腐蚀区域的图像信息，对腐蚀效果进行评价；腐蚀产物RGB数值比例在1~1.3:1~1.2:1范围内，利用平均亮度和亮度标准偏差评价缓蚀剂对镁合金的腐蚀速率和局部腐蚀程度的抑制效果；腐蚀产物RGB数值比例不在1~1.3:1~1.2:1范围内，首先根据亮度标准偏差筛选能抑制镁合金局部腐蚀的缓蚀剂，然后使用激光共聚焦显微镜观察腐蚀界面与未腐蚀界面的高度差，评价缓蚀剂对腐蚀速率的抑制效果； 利用图像信息计算缓蚀能力和腐蚀因子，计算公式为： ； ； 其中，IP为缓蚀能力，PF为腐蚀因子，La为平均亮度，LM为最大亮度，Lm为最小亮度。

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