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龙图腾网获悉梅特勒-托利多仪器(上海)有限公司申请的专利电子设备的电磁辐射抗扰度的测试方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115704842B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110941643.6，技术领域涉及：G01R31/00；该发明授权电子设备的电磁辐射抗扰度的测试方法及系统是由林振华;汤金;祖范烽;周晓玲;童颖贞;袁俊杰;朱凤军设计研发完成，并于2021-08-17向国家知识产权局提交的专利申请。

本电子设备的电磁辐射抗扰度的测试方法及系统在说明书摘要公布了：本发明提供了一种电子设备的电磁辐射抗扰度的测试方法及测试系统。该测试方法包括：向电子设备施加电磁干扰信号，所述电磁干扰信号具有由多个第一干扰频率组成的第一干扰频率序列，所述多个第一干扰频率在一预设频率范围内以预设步长逐步增大或减小；根据一时间序列记录所述电子设备在受到所述电磁干扰信号的干扰时的工作状态，所述时间序列包括多个记录时刻，所述工作状态和所述记录时刻一一对应；以及建立所述第一干扰频率序列和所述工作状态之间的第一对应关系。根据本发明的测试方法以及测试系统有助于用户提高对电子设备性能的测试效率，确保数据可追溯性。

本发明授权电子设备的电磁辐射抗扰度的测试方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种电子设备的电磁辐射抗扰度的测试方法，其特征在于，包括： 向电子设备施加电磁干扰信号，所述电磁干扰信号具有由多个第一干扰频率组成的第一干扰频率序列，所述多个第一干扰频率在一预设频率范围内以预设步长逐步增大或减小； 根据一时间序列记录所述电子设备在受到所述电磁干扰信号的干扰时的工作状态，所述时间序列包括多个记录时刻，所述工作状态和所述记录时刻一一对应；以及 建立所述第一干扰频率序列和所述工作状态之间的第一对应关系包括： 根据所述时间序列重组所述第一干扰频率序列获得第二干扰频率序列，所述第二干扰频率序列包括多个第二干扰频率，使所述多个第二干扰频率与所述多个记录时刻一一对应，其中，所述时间序列中包括N个记录时刻，所述第一干扰频率序列中包括M个所述第一干扰频率，所述第二干扰频率序列中包括N个所述第二干扰频率，其中M和N都是大于等于1的正整数，根据所述时间序列重组所述第一干扰频率序列获得第二干扰频率序列的步骤包括： 获得所述时间序列的开始时刻和结束时刻，计算所述结束时刻与所述开始时刻的差值，将所述差值除以M-1获得一比率； 获得所述第一干扰频率序列的第一频率索引，所述第一频率索引包括从1到M的M个正整数，每个所述第一频率索引对应于一个所述第一干扰频率； 将所述时间序列除以所述比率并取整得到第二频率索引，每个所述记录时刻对应于一个所述第二频率索引；以及 根据所述第二频率索引为每个所述工作状态分配一个第二干扰频率，所述第二干扰频率等于所述第二频率索引所对应的第一干扰频率；以及 将所述多个第二干扰频率与所述多个工作状态之间的第二对应关系作为所述第一对应关系。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人梅特勒-托利多仪器(上海)有限公司，其通讯地址为：200233 上海市徐汇区桂平路589号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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