长鑫科技集团股份有限公司李红文获国家专利权
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龙图腾网获悉长鑫科技集团股份有限公司申请的专利存储器件的测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121641157B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202610158024.2，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权存储器件的测试方法是由李红文;张春宇设计研发完成，并于2026-02-04向国家知识产权局提交的专利申请。
本存储器件的测试方法在说明书摘要公布了：本申请提供一种存储器件测试方法，存储器件包括命令引脚、数据引脚、缓冲电路以及失调补偿电路，缓冲电路用于接收经由命令引脚传输来的命令信号。测试方法包括：配置存储器件进入初始化训练模式，包括配置阶段、失调测试阶段以及训练阶段；在配置阶段结束后，进入失调测试阶段，且失调测试阶段与训练阶段在不同时期进行；失调测试阶段包括：在命令引脚处施加电压以形成缓冲电路的输入电压，且输入电压可调；提供失调补偿码，失调补偿码的编码值可调，编码值用于指示对缓冲电路的失调补偿程度；在数据引脚处获取缓冲电路的输出信号的状态，根据输出信号的状态确定目标编码值，目标编码值用于指示在缓冲电路正常工作期间对缓冲电路进行失调补偿。
本发明授权存储器件的测试方法在权利要求书中公布了：1.一种存储器件的测试方法，所述存储器件包括命令引脚、数据引脚、缓冲电路以及失调补偿电路，所述缓冲电路用于接收经由命令引脚传输来的命令信号，其特征在于，所述测试方法包括： 配置所述存储器件进入初始化训练模式，所述初始化训练模式包括配置阶段、失调测试阶段以及训练阶段； 在所述配置阶段结束后，进入所述失调测试阶段，且所述失调测试阶段与所述训练阶段在不同时期进行；其中，所述失调测试阶段包括： 在所述命令引脚处施加电压以形成所述缓冲电路的输入电压，且所述输入电压可调；提供失调补偿码，所述失调补偿码的编码值可调，所述编码值用于指示对所述缓冲电路的失调补偿程度；在所述数据引脚处获取所述缓冲电路的输出信号的状态，根据所述输出信号的状态确定目标编码值，所述目标编码值用于指示在所述缓冲电路正常工作期间对所述缓冲电路进行失调补偿。
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