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龙图腾网获悉成都大准科技有限公司申请的专利基于光谱形态特征的环境参数定量反演方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121598061B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202610121349.3，技术领域涉及：G06F18/213；该发明授权基于光谱形态特征的环境参数定量反演方法及系统是由孙易韩设计研发完成，并于2026-01-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于光谱形态特征的环境参数定量反演方法及系统在说明书摘要公布了：本发明涉及遥感技术领域，具体为基于光谱形态特征的环境参数定量反演方法及系统，包括：获取目标对象的反射率光谱数据，在反射率光谱数据中识别吸收谷并确定谷底最低反射率点和谷底反射率值；对吸收谷对应波段范围进行凸包络线拟合，得到谷底波段位置的包络线反射率作为谷外基准反射率，并计算谷底深度；以谷底最低反射率点为起点，向左侧波段和右侧波段分别独立扫描相邻波段的反射率数据点。本发明通过分别计算吸收谷左右两侧的斜率并生成独立的动态阈值，再经过几次迭代直到边界稳定，能更准确地找出吸收谷真实的左右延伸范围，这样提取出的谷深和不对称宽度更贴近光谱的实际情况，提高了提取精度和可靠性。

本发明授权基于光谱形态特征的环境参数定量反演方法及系统在权利要求书中公布了：1.基于光谱形态特征的环境参数定量反演方法，其特征在于，包括： 获取目标对象的反射率光谱数据，在反射率光谱数据中识别吸收谷并确定谷底最低反射率点和谷底反射率值；对吸收谷对应波段范围进行凸包络线拟合，得到谷底波段位置的包络线反射率作为谷外基准反射率，并计算谷底深度； 以谷底最低反射率点为起点，向左侧波段和右侧波段分别独立扫描相邻波段的反射率数据点，计算每个数据点与谷底反射率值的差值占比，得到左侧差值占比序列和右侧差值占比序列； 分别从谷底最低反射率点向左侧和向右侧连续取预设数量的相邻波段点作为初始扫描段，在各初始扫描段内计算平均斜率，得到左侧初始平均斜率和右侧初始平均斜率； 基于谷底深度分别与左侧初始平均斜率倒数和右侧初始平均斜率倒数的归一化乘积，生成左侧动态阈值和右侧动态阈值； 在左侧差值占比序列中查找首次超过左侧动态阈值的数据点位置作为左侧翼展边界，在右侧差值占比序列中查找首次超过右侧动态阈值的数据点位置作为右侧翼展边界，得到初次翼展边界； 基于初次翼展边界内的反射率数据重新计算左右平均斜率，更新动态阈值，并重复边界查找步骤，直至边界位置收敛稳定，得到最终不对称翼展宽度； 基于最终不对称翼展宽度和谷底深度计算归一化吸收形态特征；将归一化吸收形态特征输入预训练的反演模型，得到目标对象的环境参数定量反演结果。

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