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龙图腾网获悉南京信息工程大学申请的专利一种红外焦平面阵列测姿图像缺陷像素修复方法、装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121582116B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202610107027.3，技术领域涉及：G06T5/77；该发明授权一种红外焦平面阵列测姿图像缺陷像素修复方法、装置是由朱刘阳;曹一涵;杨银鑫;樊俊豪;汤雷鸣;吴坤阳设计研发完成，并于2026-01-27向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种红外焦平面阵列测姿图像缺陷像素修复方法、装置在说明书摘要公布了：本发明公开了一种红外焦平面阵列测姿图像缺陷像素修复方法、装置，属于红外成像与图像处理技术领域，包括：对含有故障缺陷的红外焦平面阵列测姿图像逐行、逐列进行线性拟合，计算行残差平方和与列残差平方和；将行残差平方和与列残差平方和按照降序排列，取前K个最大残差对应的行、列交集，生成缺陷像素的初始定位掩膜；对每一个缺陷像素，在横向、纵向及双对角线四个一维窗口内自适应禁用污染方向，并利用未被污染的像素样本建立多方向的鲁棒回归模型，外推得到该缺陷像素的多方向预测值；利用每个缺陷像素的多方向预测值的平均值作为该缺陷像素的修复灰度值。本发明能在单帧、无训练、无外部参考条件下实现缺陷盲诊断与高精度修复。

本发明授权一种红外焦平面阵列测姿图像缺陷像素修复方法、装置在权利要求书中公布了：1.一种红外焦平面阵列测姿图像缺陷像素修复方法，其特征在于，包括： 对含有故障缺陷的红外焦平面阵列测姿图像逐行、逐列进行线性拟合，计算行残差平方和与列残差平方和； 将行残差平方和与列残差平方和按照降序排列，取前K个最大残差对应的行、列交集，生成缺陷像素的初始定位掩膜； 针对初始定位掩膜内每一个缺陷像素，在横向、纵向及双对角线四个一维窗口内自适应禁用污染方向，并利用未被污染的像素样本建立多方向的鲁棒回归模型，外推得到该缺陷像素的多方向预测值； 根据每个缺陷像素的多方向预测值对缺陷像素进行灰度修复； 所述利用未被污染的像素样本建立多方向的鲁棒回归模型，外推得到该缺陷像素的多方向预测值，包括： 设横向窗口鲁棒回归一维坐标为，则横向窗口的纯净样本集合为： ； 其中，L为一维窗口的半长，为缺陷像素对应的列号，表示初始定位掩膜中r行、t列的元素，r为缺陷像素对应的行号； 根据横向窗口的纯净样本集合建立横向窗口的鲁棒回归模型： ； 其中，为横向窗口的截距，为横向窗口的斜率，表示红外焦平面阵列测姿图像中r行、t列的像素灰度值，为分段权函数； 的表达式如下： ； ； 其中，为变量，，为纯净样本标准差； 根据横向窗口的鲁棒回归模型，在缺陷点处外推得横向预测值： ； 设纵向窗口鲁棒回归一维坐标为，则纵向窗口的纯净样本集合为： ； 其中，表示初始定位掩膜中g行、c列的元素； 根据纵向窗口的纯净样本集合建立纵向窗口的鲁棒回归模型： ； 其中，为纵向窗口的截距，为纵向窗口的斜率，表示红外焦平面阵列测姿图像中g行、c列的像素灰度值； 根据纵向窗口的鲁棒回归模型，在缺陷点处外推得纵向预测值： ； 设对角线↗方向鲁棒回归一维坐标为，则红外焦平面阵列测姿图像中像素坐标以当前缺陷像素坐标为准转换为，对角线↗方向窗口的纯净样本样本集为： ； 其中，表示初始定位掩膜中行、列的元素； 根据对角线↗方向窗口的纯净样本集合建立对角线↗方向窗口的鲁棒回归模型： ； 其中，为对角线↗方向窗口的截距，为对角线↗方向窗口的斜率，表示红外焦平面阵列测姿图像中行、列的像素灰度值； 根据对角线↗方向窗口鲁棒回归模型，将s中心化为0，外推得↗方向对角预测值： ； 设对角线↖方向鲁棒回归一维坐标为，则红外焦平面阵列测姿图像中像素坐标以当前缺陷像素坐标为准转换为，对角线↖方向窗口的纯净样本样本集为： ； 其中，表示初始定位掩膜中行、列的元素； 根据对角线↖方向窗口的纯净样本集合建立对角线↖方向窗口的鲁棒回归模型： ； 其中，为对角线↖方向窗口的截距，为对角线↖方向窗口的斜率，表示红外焦平面阵列测姿图像中行、列的像素灰度值； 根据对角线↖方向窗口鲁棒回归模型，将f中心化为0，外推得↖方向对角预测值： 。

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