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龙图腾网获悉西安爱邦电磁技术有限责任公司申请的专利短路与阻值检测装置及检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121522531B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202610049945.5，技术领域涉及：G01R31/52；该发明授权短路与阻值检测装置及检测方法是由畅雪凡;孟志飞;熊秀;范晓宇设计研发完成，并于2026-01-15向国家知识产权局提交的专利申请。

本短路与阻值检测装置及检测方法在说明书摘要公布了：本发明公开的短路与阻值检测装置，包括电路板组件，电路板组件电连接矩形连接器，电路板组件包括MCU，MCU分别电连接电源供电单元、开关单元与检测单元；开关单元包括短路检测开关单元、短路检测中断开关单元、阻值检测开关单元、阻值检测中断开关单元；检测单元包括短路检测单元、阻值检测单元；MCU包括若干PA引脚与若干PC引脚，PA引脚包括PA0引脚与PAn引脚，PC引脚包括PCi引脚；n=1……n，i=0……i。本发明可同时检测任一信号对其他多路信号是否短路，可对多产品检测阻值，减少人员配置，提高产品检测准确性，缩短检测时间。本发明还公开了短路与阻值检测装置的检测方法。

本发明授权短路与阻值检测装置及检测方法在权利要求书中公布了：1.短路与阻值检测装置，其特征在于，包括电路板组件，所述电路板组件电连接矩形连接器，所述电路板组件包括MCU，所述MCU分别电连接电源供电单元、开关单元与检测单元；所述开关单元包括短路检测开关单元、短路检测中断开关单元、阻值检测开关单元、阻值检测中断开关单元；所述检测单元包括短路检测单元、阻值检测单元；所述MCU包括若干PA引脚与若干PC引脚，所述PA引脚包括PA0引脚与PAn引脚，PC引脚包括PCi引脚；n=1……n，i=0……i； 所述矩形连接器共计两组，包括第一矩形连接器与第二矩形连接器，所述第一矩形连接器包括X1连接器与J1连接器，所述第二矩形连接器包括X2连接器与J2连接器；所述J1连接器包括若干输入端Ai，所述J2连接器包括若干输出端Ai_O； 所述短路检测开关单元包括钮子开关SW2，所述钮子开关SW2的常开端T1电连接电阻R2，电阻R2的另一端电连接电源VCC3.3，钮子开关SW2的公共端S1分别电连接电容C7、MCU的引脚58、钮子开关SW1的公共端S1；钮子开关SW2的常闭端T2与电容C7的另一端均接地； 所述短路检测中断开关单元包括钮子开关SW3，所述钮子开关SW3的常开端T1电连接电阻R5，电阻R5的另一端电连接电源VCC3.3，钮子开关SW3的公共端S1分别电连接电容C9、MCU的引脚59、钮子开关SW2的公共端S1；钮子开关SW3的常闭端T2与电容C9的另一端均接地； 所述阻值检测开关单元包括钮子开关SW4，所述钮子开关SW4的常开端T1电连接电阻R10，电阻R10的另一端电连接电源VCC3.3，钮子开关SW4的公共端S1分别电连接电容C12、MCU的引脚61、钮子开关SW3的公共端S1；钮子开关SW4的常闭端与电容C12的另一端均接地； 所述阻值检测中断开关单元包括钮子开关SW5，所述钮子开关SW5的常开端T1电连接电阻R11，电阻R11的另一端电连接电源VCC3.3，钮子开关SW5的公共端S1分别电连接电容C22、MCU的引脚62、钮子开关SW4的公共端S1；钮子开关SW5的常闭端T2与电容C22的另一端均接地； 所述电源供电单元包括钮子开关SW1，所述钮子开关SW1的常开端T1电连接P1接口的引脚1，钮子开关SW1的公共端S1分别电连接瞬态抑制二极管D1和保险丝F1；保险丝F1另一端分别电连接电容C1、电容C2和稳压芯片U1的Vin引脚；稳压芯片U1的Vout引脚分别电连接电容C3、电容C4和稳压芯片U2的Vin引脚；稳压芯片U2的Vout引脚分别电连接电容C5、电容C6；电容C3与电容C4之间电连接电源VCC5，电容C5与电容C6之间电连接电源VCC3.3； P1的引脚2与引脚3、钮子开关SW1的常闭端T2、电容C1、电容C2、稳压芯片U1的GND引脚、电容C3、电容C4、稳压芯片U2的GND引脚、电容C5、电容C6共同接地； 电源VCC3.3依次电连接电阻R1和发光二极管LED1的正极，发光二极管LED1的负极接地； 所述短路检测单元包括PA0短路检测单元与PAn短路检测单元，所述PA0短路检测单元包括场效应管Q1，所述场效应管Q1的集电极S分别电连接电阻R13、电容C23和电源VCC5，栅极G依次电连接电阻R14和三极管Q2的集电极3，漏极D依次电连接电阻R12和J1连接器的A0输入端；电阻R13的另一端和电容C23的另一端共同电连接在栅极G和电阻R14之间；三极管Q2的基极1分别电连接电阻R15和电阻R16，电阻R15另一端依次电连接发光二极管LEDa和MCU的引脚PA0，电阻R16的另一端与发射极2共同接地； 所述PAn短路检测单元包括场效应管Qa，所述场效应管Qa的集电极S分别电连接电阻Ra、电容Ca和电源VCC5，栅极G依次电连接电阻Rb和三极管Qb的集电极3，漏极D依次电连接电阻Re和An输出端，An输出端则电连接J1连接器对应的Ai输入端，An输出端还电连接发光二极管LEDn+1正极，发光二极管LEDn+1负极接地；电阻Ra的另一端和电容Ca的另一端共同电连接在栅极G和电阻Rb之间；三极管Qb的基极1分别电连接电阻Rc和电阻Rd，电阻Rc另一端电连接MCU上的引脚PAn，电阻Rd的另一端与发射极2共同接地。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人西安爱邦电磁技术有限责任公司，其通讯地址为：710075 陕西省西安市高新区毕原二路176号军民融合产业园B4栋；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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