阿贝锐纳仪器有限公司J.菲舍尔获国家专利权
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龙图腾网获悉阿贝锐纳仪器有限公司申请的专利用于确定样品中分子的位置的方法、计算机程序和设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115552223B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202180034359.9，技术领域涉及：G01N21/64；该发明授权用于确定样品中分子的位置的方法、计算机程序和设备是由J.菲舍尔;M.亨里希;W.维勒默设计研发完成，并于2021-05-25向国家知识产权局提交的专利申请。
本用于确定样品中分子的位置的方法、计算机程序和设备在说明书摘要公布了：本发明涉及一种用于借助定位显微镜确定样品中两个或更多个相互间隔的分子在一个或多个空间方向上的位置的方法、具有指令的计算机程序以及设备。此外，本发明还涉及一种定位显微镜，其使用根据本发明的设备。为了确定分子的位置，使用由于相干光的干涉而产生的光分布。在该方法中，使用具有多个可切换像素的第一光调制器生成多个光分布S1。第一光调制器布置在定位显微镜的成像平面中。每个光分布具有局部的强度最小值和与之邻接的强度增加区域。利用相应的光分布照射S2两个或更多个分子中的每一个。对于每个光分布，针对光分布的不同定位检测S4由分子发出的光子。在此，所述光分布相互无关地定位S3。最后，基于针对光分布的不同定位检测到的光子，推导S5出分子的位置。
本发明授权用于确定样品中分子的位置的方法、计算机程序和设备在权利要求书中公布了：1.一种用于借助定位显微镜40来确定在样品1中两个或更多个相互间隔的分子2沿一个或多个空间方向的位置Pi的方法，其中，为确定所述分子2的位置Pi，使用由相干光的干涉而生成的光分布4，所述方法包括以下步骤： -在使用具有大量可切换的像素8的第一光调制器7的情况下生成多个光分布4，所述第一光调制器布置在定位显微镜40的成像平面11中，其中，每个光分布4都具有局部的强度最小值5和与其邻接的强度增加区域6； -分别利用一个光分布4照射S两个或更多个分子2中的每一个； -对于每个光分布4，针对光分布4的不同定位检测由分子2发出的光子，其中，所述光分布4相互无关地定位；并且 -基于针对光分布4的不同定位检测到的光子推导出分子2的位置Pi。
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