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刘俊锋获国家专利权

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龙图腾网获悉刘俊锋申请的专利RNA 5-甲基胞嘧啶修饰在剪接异构体上的定量分析方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN114582421B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-14发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210077220.9,技术领域涉及:G16B25/00;该发明授权RNA 5-甲基胞嘧啶修饰在剪接异构体上的定量分析方法是由刘俊锋设计研发完成,并于2022-01-24向国家知识产权局提交的专利申请。

RNA 5-甲基胞嘧啶修饰在剪接异构体上的定量分析方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种表观遗传领域的数据分析方法:RNA5‑甲基胞嘧啶修饰在剪接异构体上的定量分析方法。该方法能够解决如何在基因剪接异构体层面上定量分析RNA5‑甲基胞嘧啶修饰的问题,其技术要点包括:将RNA‑BSseq测序技术产生的数据集转换为虚拟RNA‑Seq数据集并对其中发生RNA5‑甲基胞嘧啶修饰的数据进行标注;估计剪接异构体在虚拟数据集中的表达量,并采用bootstrap技术计算其均值和方差;估计剪接异构体RNA5‑甲基胞嘧啶修饰水平,并采用Delta技术计算剪接异构体RNA5‑甲基胞嘧啶修饰水平的均值和方差;基于正态分布检验剪接异构体在不同条件下估计的RNA5‑甲基胞嘧啶修饰水平是否存在显著性差异。本发明有助于揭示RNA5‑甲基胞嘧啶修饰在生理过程和病理变化中的调控机制。

本发明授权RNA 5-甲基胞嘧啶修饰在剪接异构体上的定量分析方法在权利要求书中公布了:1.RNA5-甲基胞嘧啶修饰在剪接异构体上的定量分析方法,其特征在于,包括: 将RNA-BSseq数据转换为虚拟RNA-Seq数据; 基于虚拟RNA-Seq数据,估计剪接异构体RNA5-甲基胞嘧啶修饰m5C水平,并结合bootstrap技术和Delta技术计算估计值的期望和方差; 基于正态分布,检验不同样本间的剪接异构体m5C水平是否存在显著性差异。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人刘俊锋,其通讯地址为:100086 北京市海淀区苏州街大河庄苑9号楼508;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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